Prozessgeeignete Temperaturprofilmessungen mit faseroptischen Methoden

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03654_2008_03_02
Faseroptische Temperaturmessverfahren bieten einen Lösungsansatz zur Messung von Temperaturprofilen, deren Erfassung gemäß der Anforderungsbewertung aus der GMA-NAMUR Technologie-Roadmap von 2005 ein beachtliches Nutzenpotential darstellt.Intrinsische faseroptische Temperatur-Messverfahren werden vorgestellt, die als Raman-OTDR-Verfahren (Optical Time Domain Reflektometrie) Ortsauflösungen im Dezimeterbereich gestatten. Eine dafür konzipierte Photon-Counting-OTDR-Messvorrichtung besteht aus mechanisch relativ robusten faseroptischen Komponenten mit referenzierter Laserdiode, 3 dB-Koppler sowie Y-Koppler mit integriertem Bandenfilter und Avalanche-Empfangsdioden.
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Titel Prozessgeeignete Temperaturprofilmessungen mit faseroptischen Methoden
Autoren Peter Seefeld/Endress+Hauser Wetzer GmbH &Co. KG
Erscheinungsdatum 01.03.2008
Seitenzahl 5
Format PDF
Sprache Deutsch
Beschreibung Faseroptische Temperaturmessverfahren bieten einen Lösungsansatz zur Messung von Temperaturprofilen, deren Erfassung gemäß der Anforderungsbewertung aus der GMA-NAMUR Technologie-Roadmap von 2005 ein beachtliches Nutzenpotential darstellt.Intrinsische faseroptische Temperatur-Messverfahren werden vorgestellt, die als Raman-OTDR-Verfahren (Optical Time Domain Reflektometrie) Ortsauflösungen im Dezimeterbereich gestatten. Eine dafür konzipierte Photon-Counting-OTDR-Messvorrichtung besteht aus mechanisch relativ robusten faseroptischen Komponenten mit referenzierter Laserdiode, 3 dB-Koppler sowie Y-Koppler mit integriertem Bandenfilter und Avalanche-Empfangsdioden.
Zeitschrift atp edition - Ausgabe 03 2008
Verlag DIV Deutscher Industrieverlag GmbH
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